资源简介
摘要:本文件规定了太阳能级多晶硅块红外探伤检测的方法、设备要求、操作步骤及结果判定规则。本文件适用于太阳能级多晶硅块内部缺陷的无损检测。
Title:Test Method for Infrared Inspection of Solar-grade Polysilicon Blocks
中国标准分类号:K72
国际标准分类号:27.120
封面预览
拓展解读
《太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法》(DB65/T 3486-2013)是一项地方标准,旨在规范太阳能级多晶硅块的红外探伤检测流程和技术要求。以下将从该标准的重要条文出发,对其内容进行详细解读。
首先,在标准的适用范围中明确规定了本标准适用于以工业硅为原料通过化学法或物理化学法生产的太阳能级多晶硅块的红外探伤检测。这表明该标准主要针对的是用于太阳能光伏产业中的多晶硅材料的质量控制环节。
其次,在术语和定义部分,标准对“缺陷”、“裂纹”等关键概念进行了明确定义。例如,“缺陷”是指多晶硅块中存在的任何不符合设计规格或影响其性能的情况;而“裂纹”则是指由于热应力或其他因素导致晶体内部出现的线状破裂。这些定义为后续检测提供了统一的标准依据。
再者,在检测条件与设备章节中,标准要求使用波长范围在2μm至14μm之间的红外光源,并且设备分辨率不应低于0.1mm。同时强调了环境温度应保持在15℃至35℃之间,相对湿度不超过75%,以确保测试结果的准确性。
关于检测步骤,标准指出首先要对外观进行初步检查,排除明显不符合要求的产品。然后按照规定的参数设置仪器,将待测样品置于光路中心位置,记录下所有反射信号及透射信号。特别需要注意的是,在每次更换样品前都必须重新校准仪器零点。
最后,在判定规则上,标准提出若发现任何一条长度大于等于2mm且宽度大于等于0.1mm的裂纹,则认为该批次产品不合格。此外还规定了允许存在少量微小气孔但总数不得超过每立方厘米10个。
综上所述,《太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法》(DB65/T 3486-2013)通过对检测条件、设备要求、具体操作流程以及最终评判标准等方面的细致规定,为相关行业提供了科学有效的质量保证手段。