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    DB65T 3485-2013 太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法
    太阳能级多晶硅少数载流子寿命测量方法光电导衰减法质量控制
    16 浏览2025-06-04 更新pdf1.12MB 未评分
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    摘要:本文件规定了太阳能级多晶硅块少数载流子寿命的测量原理、试验设备、试样要求、测量步骤及数据处理。本文件适用于采用光电导衰减法测量太阳能级多晶硅块少数载流子寿命。
    Title:Measurement Method for Minority Carrier Lifetime of Solar-grade Polysilicon Blocks
    中国标准分类号:K63
    国际标准分类号:27.160

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    DB65T 3485-2013 太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法
  • 拓展解读

    《DB65/T 3485-2013 太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法》是一项重要的地方标准,主要用于规范太阳能级多晶硅块少数载流子寿命的测量过程。这项标准对于确保产品质量、提高光伏器件效率具有重要意义。以下将选取标准中的关键条款进行详细解读。

    范围与适用对象

    标准适用于以直拉法或区熔法制备的太阳能级多晶硅块。这一范围明确了标准的应用领域,即针对通过特定工艺生产的多晶硅材料进行少数载流子寿命的测定。这为后续的具体操作提供了明确的方向。

    引用文件

    标准中引用了多个相关文件,包括GB/T 1557-1995等国家标准。这些引用文件构成了整个标准的技术基础,确保了测量方法的一致性和权威性。了解并掌握这些引用文件的内容对于正确执行本标准至关重要。

    技术要求

    在技术要求部分,标准对设备、样品准备及测试环境提出了具体要求。例如,规定了测试仪器的精度等级以及样品表面应无明显缺陷。此外,还强调了测试环境温度和湿度的控制,这对于保证测试结果的准确性极为关键。

    测试步骤

    标准详细描述了测试的具体步骤,包括样品制备、测试参数设置及数据记录等内容。特别值得注意的是,在测试过程中需要定期校准仪器,并且每次测试前后都要检查仪器的工作状态是否正常。这样可以有效避免因仪器问题导致的数据偏差。

    数据处理与结果表达

    关于如何处理测试所得的数据以及最终结果的表现形式,标准也有明确规定。要求采用科学合理的方法来计算少数载流子寿命,并以表格或图表的形式清晰地展示出来。同时,还应注明所有可能影响结果准确性的因素。

    精密度与不确定度

    为了评估测量结果的质量,标准还给出了精密度的要求以及不确定度分析的方法。这一步骤非常重要,因为它直接影响到我们能否信任该测量值能够真实反映实际情况。

    以上是对《DB65/T 3485-2013 太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法》中一些核心内容的解读。希望可以帮助相关人员更好地理解和应用此标准,在实际工作中发挥其应有的指导作用。

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