电磁兼容　试验和测量技术　第39部分：近距离辐射场抗扰度试验 GBT 17626.39-2023

电磁兼容试验和测量技术 第39部分：近距离辐射场抗扰度试验

GBT 17626.39-2023的发布标志着电磁兼容（EMC）领域在试验与测量技术上的进一步发展。本标准聚焦于近距离辐射场抗扰度试验，为电子设备的设计、生产及测试提供了重要的技术指导。

引言

随着现代电子设备的普及，电磁干扰（EMI）问题日益突出。为了确保设备在复杂电磁环境中的稳定运行，制定严格的测试标准显得尤为重要。本标准旨在规范近距离辐射场抗扰度试验的方法，提高设备的电磁兼容性。

标准概述

GBT 17626.39-2023详细规定了近距离辐射场抗扰度试验的技术要求、试验条件以及测量方法。该标准适用于各种电子设备，包括但不限于通信设备、工业控制设备和消费电子产品。

试验方法

• 试验环境：试验应在屏蔽室或开放场地进行，以确保试验结果的准确性。
• 试验频率范围：试验频率应覆盖从150kHz到1GHz的范围。
• 试验场强：试验场强应根据设备的实际应用环境设定，通常为10V/m至30V/m。
• 测试步骤：
  • 设备放置在指定位置，确保其处于正常工作状态。
  • 使用天线发射电磁波，逐步增加场强直至达到规定的限值。
  • 记录设备在此过程中的响应情况。

测量技术

为了保证试验数据的精确性，本标准提出了多种先进的测量技术：

• 采用高精度的场强测量仪器，确保数据采集的准确性。
• 利用数字信号处理技术对采集的数据进行分析，减少噪声干扰。
• 引入自动化测试系统，提高试验效率并降低人为误差。

结论

GBT 17626.39-2023为近距离辐射场抗扰度试验提供了科学、系统的指导，有助于提升电子设备的电磁兼容性能。未来，随着技术的进步，该标准仍有优化空间，特别是在自动化测试和数据分析方面。