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摘要:本文件规定了球栅阵列(BGA)和盘栅阵列(LGA)焊点空洞的评估要求及测试方法,包括测试条件、测量技术、结果分析等内容。本文件适用于使用BGA和LGA封装技术的电子组件的制造与质量控制过程。
Title:Printed Board Assembly - Part 6: Requirements and Test Methods for Evaluation of Solder Joint Voids in Ball Grid Array (BGA) and Land Grid Array (LGA)
中国标准分类号:L80
国际标准分类号:25.040.40
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BGA(Ball Grid Array)和LGA(Land Grid Array)焊点空洞是指在电子元件与印制电路板之间的焊接过程中,由于气泡或其他原因导致焊料中出现的空腔现象。这些空洞可能影响焊接强度和可靠性。
BGA和LGA焊点空洞可能导致以下问题:
GBT 19247.6-2024标准规定了焊点空洞的评估要求,主要包括:
测试方法包括:
焊点空洞的主要形成原因包括:
减少焊点空洞的方法包括:
如果焊点空洞超标,应采取以下措施:
该标准适用于需要高可靠性的电子制造行业,如:
虽然可以通过显微镜等工具进行人工判断,但为了确保准确性,建议采用自动化检测设备(如X射线检测仪),以满足GBT 19247.6-2024标准的要求。
培训内容应包括: