SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法

总结 SJ 966-1975 的主要内容

SJ 966-1975 是一项关于硅开关二极管反向击穿电压测试方法的标准。该标准详细规定了测试环境、设备要求以及具体的测试步骤，以确保测试结果的准确性和可重复性。

• 测试环境： 要求在特定温度和湿度条件下进行测试，以排除外界因素对测试结果的影响。
• 设备要求： 需要使用高精度的电压源、电流表以及保护电路，确保测试过程中设备的安全性和准确性。
• 测试步骤： 包括设置测试参数、施加电压、记录击穿电压值等具体操作流程。

对比老版本的变化

与老版本相比，SJ 966-1975 在以下几个方面进行了改进和优化：

• 更严格的测试环境控制： 新版本对温度和湿度的要求更加严格，以提高测试数据的可靠性。
• 设备升级： 强调使用更高精度的测量仪器，并增加了对设备校准频率的规定。
• 测试步骤细化： 对关键步骤进行了详细说明，增加了安全注意事项，避免测试过程中的潜在风险。