资源简介
摘要:本文件规定了中、小规模数字集成电路静态参数测试仪的通用技术条件,包括基本参数、性能要求、测试方法及检验规则等内容。本文件适用于中、小规模数字集成电路静态参数测试仪的设计、生产和验收。
Title:General Technical Requirements for Static Parameter Tester of Medium and Small Scale Digital Integrated Circuits
中国标准分类号:M63
国际标准分类号:31.140
封面预览
拓展解读
以下是关于 SJT 10195-1991 中、小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件 的常见问题解答。
SJT 10195-1991 是中国国家标准化管理委员会发布的一项标准,用于规范中、小规模数字集成电路静态参数测试仪的技术要求和性能指标。这项标准为测试仪的设计、生产、检验及验收提供了统一的技术依据。
测试仪主要用于对中、小规模数字集成电路(如 TTL、CMOS 等)的静态参数进行精确测量。这些参数包括但不限于输入电压范围、输出电压范围、逻辑电平、功耗等,以确保芯片符合设计规格。
测试仪需要通过权威机构的检测,确保其各项技术指标达到标准要求。通常需要提供以下文件作为证明:型式试验报告 和 产品合格证。
测试仪适用于各种中、小规模数字集成电路的静态参数测试,广泛应用于电子制造、研发、质量控制等领域。
根据标准要求,测试仪应每 12 个月 进行一次校准,以确保测量数据的准确性。
是的,测试仪通常支持多种接口类型,如 USB、RS-232、GPIB 等,以满足不同应用场景的需求。
是的,部分厂商提供定制服务,可以根据客户需求调整测试仪的功能模块和技术参数。
正常使用情况下,测试仪的使用寿命一般为 5 至 10 年,具体取决于维护情况和使用频率。