• 首页
  • 查标准
  • 下载
  • 专题
  • 标签
  • 首页
  • 标准
  • 制造
  • SJT 10187-1991 Y73系列温度变化试验箱.一箱式

    SJT 10187-1991 Y73系列温度变化试验箱.一箱式
    温度变化试验箱环境试验设备一箱式温度循环可靠性测试
    22 浏览2025-06-07 更新pdf0.21MB 未评分
    加入收藏
    立即下载
  • 资源简介

    摘要:本文件规定了Y73系列一箱式温度变化试验箱的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于Y73系列一箱式温度变化试验箱的设计、生产和验收。
    Title:SJT 10187-1991 Y73 Series Temperature Change Test Chamber, Single Box Type
    中国标准分类号:M62
    国际标准分类号:19.040

  • 封面预览

    SJT 10187-1991 Y73系列温度变化试验箱.一箱式
  • 拓展解读

    总结内容

    SJT 10187-1991 Y73系列温度变化试验箱是一箱式的设备,用于模拟各种温度环境条件,广泛应用于电子、航空、汽车等领域。

    对比与老版本的变化

    • 性能提升: 新版本在温度控制精度上有所提高,确保更稳定的温控效果。
    • 结构优化: 优化了箱体的隔热材料,减少了能耗并提升了保温性能。
    • 操作界面: 增加了智能控制系统,操作更加便捷,支持更多自定义参数设置。
    • 安全性增强: 新增多重保护功能,如过热保护和故障报警,提高了设备的安全性。
  • 下载说明

    预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象,仅为图片呈现问题,不影响文档的下载及阅读体验。

    当文档总页数显著少于常规篇幅时,建议审慎下载。

    资源简介仅为单方陈述,其信息维度可能存在局限,供参考时需结合实际情况综合研判。

    如遇下载中断、文件损坏或链接失效,可提交错误报告,客服将予以及时处理。

  • 相关资源
    下一篇 SJT 10191-1991 713型天气雷达

    SJT 10212-1991 Y60600-G高低温低气压试验设备

    元器件位移损伤试验方法 GBT 42969-2023

    半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命 GBT 4937.23-2023

    半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存 GBT 4937.42-2023

资源简介
封面预览
拓展解读
下载说明
相关资源
  • 帮助中心
  • 网站地图
  • 联系我们
2024-2025 WenDangJia.com 浙ICP备2024137650号-1