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摘要:本文件规定了半导体集成电路用陶瓷针栅阵列(Ceramic Pin Grid Array, CPGA)外壳的结构、材料、性能要求及测试方法。本文件适用于采用陶瓷针栅阵列封装的半导体集成电路外壳的设计、生产和验收。
Title:Semiconductor Integrated Circuits - Ceramic Pin Grid Array Packages - Detailed Specifications
中国标准分类号:M61
国际标准分类号:31.080.20
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拓展解读
SJ 514203-2003 是中国针对半导体集成电路陶瓷针栅阵列(LGA)外壳制定的一项详细规范。这项标准旨在为电子设备的设计和制造提供明确的技术要求和质量控制依据。陶瓷针栅阵列外壳因其卓越的电气性能、机械强度以及热稳定性,在高可靠性电子系统中被广泛应用,如航空航天、通信设备和医疗仪器等。
陶瓷针栅阵列外壳以其独特的设计结构著称,其核心特点包括以下几点:
根据 SJ 514203-2003 的规定,陶瓷针栅阵列外壳需满足一系列严格的技术指标。这些指标涵盖了外壳的尺寸公差、表面光洁度、电气绝缘性能以及机械强度等方面。例如,外壳的引脚间距通常为 0.8 mm 或更小,而整体厚度则需要控制在 ±0.1 mm 的范围内。此外,外壳还必须通过严格的振动测试和冲击测试,以确保其在极端环境下的可靠性。
陶瓷针栅阵列外壳广泛应用于高端电子产品的封装中。例如,在某款高性能服务器处理器的生产过程中,制造商采用了符合 SJ 514203-2003 标准的陶瓷针栅阵列外壳。该外壳成功解决了处理器散热问题,使得设备能够在高达 95°C 的环境下稳定运行超过 10,000 小时。这一成果不仅显著提升了服务器的可靠性,还大幅降低了维护成本。
随着半导体技术的飞速发展,陶瓷针栅阵列外壳正朝着更高集成度、更低功耗的方向演进。预计在未来几年内,外壳的引脚数量将增加至数千个,同时其体积将进一步缩小。这将对制造工艺提出更高的要求,同时也为新材料的应用提供了广阔空间。例如,研究人员正在探索将碳化硅或氮化镓等新型材料用于外壳制造,以进一步提升其性能表现。
SJ 514203-2003 对半导体集成电路陶瓷针栅阵列外壳的详细规范,为行业提供了重要的技术指导。通过深入了解其特点、技术要求及实际应用,我们可以更好地把握这一领域的发展趋势。未来,随着技术的进步和市场需求的变化,陶瓷针栅阵列外壳将继续在高可靠性电子系统中扮演关键角色。