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摘要:本文件规定了半导体集成电路用陶瓷扁平外壳的外形尺寸、标记、材料要求及质量保证等技术要求。本文件适用于半导体集成电路中使用的陶瓷扁平外壳的设计、制造和检验。
Title:Semiconductor Integrated Circuits - Detailed Specifications for Ceramic Flat Packages
中国标准分类号:M43
国际标准分类号:31.080.20
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拓展解读
SJT 10308-1992 是中国国家标准,用于规范半导体集成电路陶瓷扁平外壳的技术要求、测试方法和检验规则。
该标准适用于半导体集成电路用陶瓷扁平外壳的设计、制造和验收。其主要目的是确保外壳具有良好的机械性能、电气性能和环境适应性,以满足集成电路的可靠性和稳定性需求。
根据SJT 10308-1992,陶瓷扁平外壳的关键技术指标包括但不限于:
气密性测试是确保陶瓷外壳密封性能的重要环节。通常采用氦质谱检漏仪检测泄漏率,具体步骤如下:
如果泄漏率超标,则需检查外壳是否存在裂缝或其他密封缺陷。
耐热冲击性能评估通过快速温变测试完成,具体方法如下:
引脚设计直接影响外壳的安装可靠性。关键注意事项包括:
表面质量直接影响外壳的美观性和耐用性。常见的检查项目包括:
为了保护外壳免受运输过程中的损伤,标准规定: