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    SJT 10308-1992 半导体集成电路陶瓷扁平外壳详细规范
    半导体集成电路陶瓷扁平外壳封装外壳规范详细规范
    14 浏览2025-06-07 更新pdf0.2MB 未评分
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    摘要:本文件规定了半导体集成电路用陶瓷扁平外壳的外形尺寸、标记、材料要求及质量保证等技术要求。本文件适用于半导体集成电路中使用的陶瓷扁平外壳的设计、制造和检验。
    Title:Semiconductor Integrated Circuits - Detailed Specifications for Ceramic Flat Packages
    中国标准分类号:M43
    国际标准分类号:31.080.20

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    SJT 10308-1992 半导体集成电路陶瓷扁平外壳详细规范
  • 拓展解读

    关于SJT 10308-1992半导体集成电路陶瓷扁平外壳详细规范的常见问题解答

    SJT 10308-1992 是中国国家标准,用于规范半导体集成电路陶瓷扁平外壳的技术要求、测试方法和检验规则。

    优先级 1: 标准的主要适用范围是什么?

    该标准适用于半导体集成电路用陶瓷扁平外壳的设计、制造和验收。其主要目的是确保外壳具有良好的机械性能、电气性能和环境适应性,以满足集成电路的可靠性和稳定性需求。

    优先级 2: 陶瓷扁平外壳的关键技术指标有哪些?

    根据SJT 10308-1992,陶瓷扁平外壳的关键技术指标包括但不限于:

    • 外形尺寸和公差
    • 引脚数量及布局
    • 气密性(泄漏率)
    • 耐热冲击性能
    • 机械强度(如弯曲强度、抗冲击能力)
    • 表面质量(如划痕、裂纹等缺陷控制)

    优先级 3: 如何进行气密性测试?

    气密性测试是确保陶瓷外壳密封性能的重要环节。通常采用氦质谱检漏仪检测泄漏率,具体步骤如下:

    1. 将外壳置于真空环境中。
    2. 注入适量的氦气并监测泄漏情况。
    3. 记录泄漏率是否符合标准规定的限值(通常为1×10⁻⁸ Pa·m³/s或更低)。

    如果泄漏率超标,则需检查外壳是否存在裂缝或其他密封缺陷。

    优先级 4: 陶瓷外壳的耐热冲击性能如何评估?

    耐热冲击性能评估通过快速温变测试完成,具体方法如下:

    • 将外壳在高温(通常为+150℃)和低温(通常为-65℃)之间循环。
    • 每次循环后检查外壳是否有开裂、变形等问题。
    • 重复测试直至达到规定的循环次数(通常为10次或更多),确认外壳是否满足标准要求。

    优先级 5: 引脚设计需要注意哪些事项?

    引脚设计直接影响外壳的安装可靠性。关键注意事项包括:

    • 引脚间距和长度需符合设计图纸要求。
    • 引脚镀层材料应具有良好的导电性和抗氧化性。
    • 引脚焊接部位应避免虚焊或短路现象。

    优先级 6: 陶瓷外壳的表面质量如何判断?

    表面质量直接影响外壳的美观性和耐用性。常见的检查项目包括:

    • 目视检查外壳表面是否存在明显划痕、裂纹或污渍。
    • 使用放大镜或显微镜检查细微缺陷。
    • 对于严重缺陷,需剔除不合格产品。

    优先级 7: 标准中对包装和运输有何要求?

    为了保护外壳免受运输过程中的损伤,标准规定:

    • 外壳应单独放置于防静电包装袋内。
    • 包装箱需具备足够的缓冲性能,避免剧烈震动。
    • 运输过程中需避免阳光直射和极端温度环境。
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