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资源简介
摘要：本文件规定了半导体中深能级的瞬态电容测试方法的技术要求、测试条件和数据处理步骤。本文件适用于半导体材料及器件中深能级特性的评估与分析。
Title：Transient Capacitance Testing Method for Deep Levels in Semiconductors
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：25.140 -
封面预览
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拓展解读
主要内容
SJT 10482-1994 是一项关于半导体中深能级瞬态电容测试方法的标准，用于评估半导体材料中的深能级特性。该标准详细规定了测试原理、设备要求、实验步骤以及数据处理方法。
对比老版本的变化
- 测试原理: 新版本对测试原理进行了更详细的描述，并引入了新的理论模型以提高测试精度。
- 设备要求: 更新了设备的技术指标，增加了对高精度测量仪器的支持，同时简化了部分设备的操作流程。
- 实验步骤: 对实验步骤进行了优化，减少了人为误差的可能性，并增加了多个校准环节以确保数据可靠性。
- 数据处理: 引入了新的数据分析算法，提高了数据处理的速度和准确性，同时提供了更多可视化工具。
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