• 首页
  • 查标准
  • 下载
  • 专题
  • 标签
  • 首页
  • 标准
  • 信息技术
  • SJ 5059718-1994 半导体集成电路.JT54LS33型LS-TTL四2输入或非门(OC)详细规范

    SJ 5059718-1994 半导体集成电路.JT54LS33型LS-TTL四2输入或非门(OC)详细规范
    半导体集成电路LS-TTL或非门OC详细规范
    14 浏览2025-06-07 更新pdf0.47MB 未评分
    加入收藏
    立即下载
  • 资源简介

    摘要:本文件规定了JT54LS33型LS-TTL四2输入或非门(OC)的电气特性、功能要求、测试方法及质量保证措施。本文件适用于采用LS-TTL技术的半导体集成电路设计、生产和检测。
    Title:Semiconductor Integrated Circuits - JT54LS33 Type LS-TTL Quad 2-Input NOR Gate (OC) Detailed Specifications
    中国标准分类号:M61
    国际标准分类号:31.080

  • 封面预览

    SJ 5059718-1994 半导体集成电路.JT54LS33型LS-TTL四2输入或非门(OC)详细规范
  • 拓展解读

    主要内容

    SJ 5059718-1994 是关于 JT54LS33 型 LS-TTL 四 2 输入或非门(OC)的详细规范。该标准主要涵盖了以下几个方面:

    • 产品概述: 定义了 JT54LS33 的功能和用途,包括其作为或非门的基本逻辑特性。
    • 电气特性: 包括工作电压范围、输入输出电流、开关时间等关键参数。
    • 封装形式: 描述了产品的物理封装方式及其引脚排列。
    • 测试方法: 提供了测试该集成电路性能的具体方法和条件。
    • 可靠性要求: 对产品的可靠性和环境适应性提出了具体指标。

    与老版本的变化

    对比老版本,SJ 5059718-1994 在以下几个方面进行了更新和改进:

    • 电气特性优化: 新版本对输入输出电流和开关时间的参数进行了更严格的定义,以提高电路的稳定性和响应速度。
    • 封装改进: 封装材料的耐温性能得到了提升,以适应更广泛的温度范围。
    • 测试方法更新: 引入了更先进的测试设备和技术,确保测试结果更加精确。
    • 可靠性增强: 对产品的抗干扰能力和长期稳定性提出了更高的要求。
  • 下载说明

    预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象,仅为图片呈现问题,不影响文档的下载及阅读体验。

    当文档总页数显著少于常规篇幅时,建议审慎下载。

    资源简介仅为单方陈述,其信息维度可能存在局限,供参考时需结合实际情况综合研判。

    如遇下载中断、文件损坏或链接失效,可提交错误报告,客服将予以及时处理。

  • 相关资源
    下一篇 SJ 5059721-1994 半导体集成电路.JADC1001型通用8位二进制输出AD转换器详细规范

    SJ 5059720-1994 半导体集成电路.JDAC08、JDAC08A型乘法并行8位DA转换器详细规范

    SJ 5059722-1994 半导体集成电路.JF709、JF709A型通用运算放大器详细规范

    SJ 5059723-1994 半导体集成电路.JJ710型电压比较器详细规范

    SJ 5059724-1994 半导体集成电路.JF3140、JF3140A型BiMOS高输入阻抗运算放大器详细规范

资源简介
封面预览
拓展解读
下载说明
相关资源
  • 帮助中心
  • 网站地图
  • 联系我们
2024-2025 WenDangJia.com 浙ICP备2024137650号-1