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  • SJ 3230-1989 电子设备自然冷却温度测试方法

    SJ 3230-1989 电子设备自然冷却温度测试方法
    电子设备自然冷却温度测试测试方法环境试验
    15 浏览2025-06-07 更新pdf0.27MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了电子设备自然冷却温度测试的方法、条件和要求。本文件适用于采用自然冷却方式的电子设备在设计验证、生产检验及使用维护中的温度性能测试。
    Title:Test Method for Natural Cooling Temperature of Electronic Equipment
    中国标准分类号:M63
    国际标准分类号:31.020

  • 封面预览

    SJ 3230-1989 电子设备自然冷却温度测试方法
  • 拓展解读

    主要内容

    SJ 3230-1989《电子设备自然冷却温度测试方法》规定了电子设备在自然冷却条件下的温度测试方法。该标准适用于各种类型的电子设备,旨在确保测试结果的准确性和一致性。

    变化对比

    • 测试环境要求:新版本对测试环境的温湿度控制提出了更严格的要求,以减少外界因素对测试结果的影响。
    • 测量仪器精度:更新了测量仪器的精度要求,强调使用更高精度的设备进行数据采集。
    • 测试步骤:增加了详细的测试步骤说明,并对关键操作进行了标准化描述,便于实际操作中的统一执行。
    • 数据分析:新版本引入了更科学的数据分析方法,提高了测试结果的可靠性和可比性。
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