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    SJ 2854-1988 半导体分立器件塑封引线框架详细规范
    半导体分立器件塑封引线框架详细规范技术要求
    22 浏览2025-06-07 更新pdf0.36MB 未评分
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    摘要:本文件规定了半导体分立器件塑封引线框架的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于半导体分立器件用塑封引线框架。
    Title:Detailed Specification for Plastic Encapsulated Leadframes of Semiconductor Discrete Devices
    中国标准分类号:M52
    国际标准分类号:31.140

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    SJ 2854-1988 半导体分立器件塑封引线框架详细规范
  • 拓展解读

    常见问题解答(FAQ)

    以下是关于“SJ 2854-1988 半导体分立器件塑封引线框架详细规范”的常见问题解答,按优先级从高到低排列。

    1. SJ 2854-1988 是什么标准?

    SJ 2854-1988 是中国国家军用标准,规定了半导体分立器件塑封引线框架的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存等内容。该标准适用于军用和民用电子设备中使用的半导体分立器件。

    2. SJ 2854-1988 的适用范围是什么?

    SJ 2854-1988 主要适用于半导体分立器件的塑封引线框架设计、制造和质量控制。具体包括但不限于二极管、三极管、晶闸管等器件的引线框架。

    3. 引线框架的主要技术指标有哪些?

    • 引线框架材料:通常为铜合金或铁镍合金,需满足导电性和机械强度的要求。
    • 尺寸公差:引线框架的几何尺寸需符合标准规定的公差范围。
    • 表面处理:通常采用镀锡、镀金或其他防腐蚀处理。
    • 电气性能:引线框架的电阻率和导电性需满足器件工作条件。
    • 机械性能:需具备足够的抗拉强度和弯曲性能。

    4. 如何进行引线框架的检验?

    根据 SJ 2854-1988 标准,引线框架的检验分为以下几个步骤:

    • 外观检查:通过目视或显微镜检查引线框架的表面质量和尺寸精度。
    • 物理性能测试:包括拉伸试验、弯曲试验等。
    • 电气性能测试:测量引线框架的电阻率和接触电阻。
    • 环境适应性测试:如盐雾试验、高温高湿试验等。

    5. 引线框架的包装和运输需要注意哪些事项?

    根据标准要求,引线框架的包装和运输应注意以下几点:

    • 包装材料应防潮、防静电,避免引线框架受到污染或损坏。
    • 运输过程中需防止剧烈震动和碰撞,以免影响产品质量。
    • 包装上应标明产品型号、规格、生产日期和批次信息。

    6. SJ 2854-1988 是否适用于所有类型的半导体器件?

    不是。该标准主要适用于塑封型半导体分立器件的引线框架,不适用于其他封装形式(如金属封装或陶瓷封装)的器件。

    7. 如何判断引线框架是否符合 SJ 2854-1988 标准?

    可以通过以下方式判断:

    • 查阅产品的合格证书和检测报告。
    • 对比产品的实际参数与标准中的技术指标。
    • 由第三方权威机构进行认证和检测。

    8. SJ 2854-1988 是否已被替代?

    目前尚未有明确的信息表明 SJ 2854-1988 已被正式废止或替代。但在实际应用中,建议关注最新版本的标准或相关更新文件。

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