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摘要:本文件规定了半导体红外发光二极管的主要电学、光学特性参数的测试方法。本文件适用于波长范围为0.7μm~1.1μm的半导体红外发光二极管的测试。
Title:Test Methods for Semiconductor Infrared Emitting Diodes
中国标准分类号:M63
国际标准分类号:31.140
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拓展解读
以下是关于标准 SJ 2658-1986 半导体红外发光二极管测试方法 的常见问题及其解答。
SJ 2658-1986 是一项中国国家标准,规定了半导体红外发光二极管(LED)的主要测试方法。该标准适用于红外发光二极管的性能评估,包括电学特性、光学特性和环境适应性等。
该标准为红外发光二极管的生产和检测提供了统一的技术规范,确保产品的质量和一致性。通过标准化测试方法,可以减少不同制造商之间的差异,提高产品在市场中的互换性和可靠性。
测试设备的选择需满足标准中规定的精度要求。例如:
建议参考设备的技术规格是否达到标准要求,并定期校准以保证准确性。
不适用。SJ 2658-1986 仅针对红外发光二极管的测试方法,而可见光 LED 的测试可能涉及不同的参数和标准,例如颜色坐标、显色指数等。
首先,检查测试设备是否正确校准并符合标准要求。其次,分析生产过程中的潜在问题,例如材料质量、工艺控制等。最后,根据问题原因采取改进措施,并重新测试以验证改进效果。
虽然该标准发布于1986年,但其基本原理仍然具有参考价值。然而,随着技术的发展,建议结合最新的行业标准(如 IEC 或 JEDEC 标准)进行补充和完善。
您可以联系中国国家标准化管理委员会或相关机构购买该标准的正式文本。此外,部分图书馆或在线数据库也可能提供访问权限。