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资源简介
摘要：本文件规定了半导体发光器件法向光强和半强度角的测试方法，包括测试条件、设备要求及数据处理方式。本文件适用于半导体发光器件的相关性能评估与质量控制。
Title：Test Methods for Semiconductor Light-Emitting Devices
中国标准分类号：M63
国际标准分类号：31.140 -
封面预览
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拓展解读
主要内容
SJ 2355.5-1983 是关于半导体发光器件测试方法的标准，主要规定了法向光强和半强度角的测试方法。
对比老版本的变化
- 测量精度提升：新版本对测试设备的精度要求更高，确保数据更准确。
- 测试环境优化：增加了对测试环境的具体要求，例如温度、湿度等条件。
- 操作步骤细化：详细描述了测试的操作步骤，便于实际操作人员理解和执行。
- 新增参考标准：引入了新的国际或国家标准作为参考，增强了标准的权威性。
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