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摘要:本文件规定了半导体光电子器件的外形尺寸和技术要求。本文件适用于半导体光电子器件的设计、制造和检验。
Title:Semiconductor Optoelectronic Devices - Outline Dimensions
中国标准分类号:M43
国际标准分类号:31.140
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拓展解读
SJ 2247-1982半导体光电子器件外形尺寸标准是关于半导体光电子器件外形尺寸的重要规范,广泛应用于电子工程领域。以下是与该标准相关的常见问题及其详细解答。
SJ 2247-1982是中国国家标准,规定了半导体光电子器件的外形尺寸要求。它为设计、生产和测试这些器件提供了统一的技术依据,确保产品的互换性和兼容性。
该标准的主要目的是:
SJ 2247-1982适用于多种半导体光电子器件,包括但不限于:
要确认器件是否符合标准,需检查其外形尺寸参数是否满足标准中的具体要求。通常包括:
虽然SJ 2247-1982是中国国家标准,但在某些情况下,也可以作为参考。然而,国际项目通常会采用IEC或其他国际标准(如JEDEC)。因此,在涉及国际合作时,建议优先考虑适用的国际标准。
在没有SJ 2247-1982的情况下,仍可以生产器件,但可能会导致产品不兼容或质量不稳定的问题。遵循标准有助于提升产品竞争力和市场接受度。
虽然SJ 2247-1982发布较早,但它仍然是一个重要的参考标准。不过,随着技术的发展,可能需要结合其他更新的标准(如IEC 60747系列)来满足现代需求。
您可以从中国国家标准化管理委员会(SAC)或相关机构购买标准文档。此外,部分图书馆或学术机构也可能提供访问权限。
SJ 2247-1982主要关注外形尺寸的要求,而测试方法通常在其他相关标准中定义,例如IEC 60747系列或GB/T标准。
对于某些应用,可以参考国际标准如IEC 60747或JEDEC标准。这些标准在全球范围内更通用,适合国际化项目。