SJ 2215.10-1982 半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法

主要内容总结

SJ 2215.10-1982 是关于半导体光耦合器直流电流传输比测试方法的标准。该标准详细规定了如何测量半导体光耦合器的直流电流传输比，包括测试环境、设备要求、测试步骤以及数据处理方法。

• 测试环境：需要在特定温度和湿度条件下进行测试，以确保结果的准确性。
• 设备要求：明确列出所需的测试设备及其精度要求。
• 测试步骤：详细描述了从准备到完成测试的具体操作流程。
• 数据处理：提供了计算和记录测试结果的方法。

对比老版本的变化

与老版本相比，SJ 2215.10-1982 在以下几个方面进行了更新和改进：

• 更严格的环境控制：新版本对测试环境的要求更加严格，增加了对电磁干扰的防护措施。
• 设备精度提升：更新了设备的技术指标，提高了测量的精确度。
• 优化测试步骤：简化了一些复杂的测试步骤，并增加了安全注意事项。
• 增强数据可靠性：引入了新的数据分析方法，确保测试结果的可靠性和可重复性。