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摘要:本文件规定了薄膜集成电路用微晶玻璃基片的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于薄膜集成电路用微晶玻璃基片的生产与验收。
Title:Film Integrated Circuit Microcrystalline Glass Substrates
中国标准分类号:L80
国际标准分类号:29.040
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拓展解读
随着电子信息技术的快速发展,薄膜集成电路在现代电子设备中扮演着越来越重要的角色。为了满足高性能电子器件的需求,基片材料的选择成为关键因素之一。SJ 2154-1982 标准定义了薄膜集成电路用微晶玻璃基片的技术要求和测试方法,为相关领域的研究和生产提供了重要参考。
本文将从微晶玻璃基片的特性、技术标准以及实际应用三个方面进行深入探讨,旨在为相关研究者和工程师提供理论支持和实践指导。
微晶玻璃基片以其优异的物理化学性能而备受关注。以下是其主要特性:
SJ 2154-1982 标准详细规定了微晶玻璃基片的生产要求和质量检测指标,包括以下几个方面:
这些标准不仅为生产厂家提供了明确的指导,也为用户选择合适的基片材料提供了依据。
微晶玻璃基片因其卓越的性能,在薄膜集成电路领域得到了广泛应用。以下是其典型应用场景:
此外,随着微电子技术的进步,微晶玻璃基片的需求量逐年增加,其市场前景十分广阔。
SJ 2154-1982 标准为薄膜集成电路用微晶玻璃基片的生产和应用提供了科学规范的指导。通过对其特性的深入研究和技术标准的严格执行,可以进一步提升基片的质量和可靠性,推动薄膜集成电路技术的发展。