资源简介
摘要:本文件规定了半导体二极管热阻抗的测试方法,包括测试条件、测试设备和测试步骤。本文件适用于半导体二极管的热特性评估及相关的质量控制。
Title:Test Method for Thermal Impedance of Semiconductor Diodes
中国标准分类号:M63
国际标准分类号:31.080
封面预览
拓展解读
在遵循“SJ 20788-2000 半导体二极管热阻抗测试方法”标准的前提下,通过灵活调整测试流程和资源利用,可以有效降低测试成本并提高效率。以下是基于核心业务环节提出的10项弹性方案。