SJ 20750-1999 军用CMOS电路用抗辐射硅单晶片规范

摘要：本文件规定了军用CMOS电路用抗辐射硅单晶片的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于军用CMOS电路用抗辐射硅单晶片的生产与验收。
Title：Specification for Radiation-Resistant Silicon Wafers for Military CMOS Circuits
中国标准分类号：M53
国际标准分类号：25.160

主要内容

SJ 20750-1999《军用CMOS电路用抗辐射硅单晶片规范》规定了用于军用CMOS电路的抗辐射硅单晶片的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等内容。

对比老版本的变化

• 技术要求：增加了对更高剂量辐射环境下的性能要求，同时细化了材料纯度和缺陷控制的具体指标。
• 试验方法：引入了更先进的测试技术和设备，提高了检测结果的准确性和可靠性。
• 检验规则：优化了抽样方案，增强了质量控制的科学性，确保产品的一致性。
• 标志、包装、运输和贮存：更新了相关的标准流程，加强了对环境因素的防护措施，以适应现代化物流的需求。