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摘要:本文件规定了红外探测器用碲锡铅晶片的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于红外探测器中使用的碲锡铅晶片的生产和验收。
Title:Specification for Lead Tin Telluride Wafers Used in Infrared Detectors
中国标准分类号:M51
国际标准分类号:47.020
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拓展解读
SJ 20437-1994 是一项关于红外探测器用碲锡铅(HgCdTe,简称MCT)晶片的技术规范,它详细规定了这种材料的物理、化学和光学性能要求,以及生产过程中的技术标准。碲锡铅晶片是制造高性能红外探测器的核心材料,广泛应用于军事、航天、医疗、工业检测等领域。这项规范的制定为红外探测器的设计与生产提供了统一的标准,确保了产品质量的一致性和可靠性。
碲锡铅是一种典型的窄带隙半导体材料,其禁带宽度可以通过改变组分比例精确调控,从而适应不同波段的红外探测需求。根据SJ 20437-1994 的要求,碲锡铅晶片需满足以下基本特性:
为了确保碲锡铅晶片的质量,生产过程中需要严格控制多个环节。以下是根据SJ 20437-1994 规范中提到的关键控制点:
碲锡铅晶片作为核心材料,广泛应用于多种红外探测器中。以下是几个典型的应用场景:
以某国际知名红外探测器制造商为例,该公司通过严格遵循SJ 20437-1994 标准,成功开发出一款高灵敏度的短波红外探测器。该探测器采用了高质量的碲锡铅晶片,其禁带宽度为0.7电子伏特,电阻率为104欧姆·厘米。在实际测试中,这款探测器在15微米波长下的信噪比达到了行业领先水平,显著提升了目标识别能力。
此外,另一家国内企业也借助这项标准,实现了碲锡铅晶片的大规模量产。数据显示,自实施标准化生产以来,该企业的次品率从最初的15%降至不到3%,年产量突破百万片,大幅降低了成本并提高了市场竞争力。
随着科技的进步,碲锡铅晶片的需求量将持续增长。未来的发展方向主要包括以下几个方面:
总之,SJ 20437-1994 对于碲锡铅晶片的规范不仅是一项技术标准,更是推动整个红外探测器行业发展的基石。通过严格执行这一标准,我们可以期待未来在更多领域看到更加先进、可靠的红外探测解决方案。