SJ 20348-1993 低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法

主要内容

SJ 20348-1993《低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法》规定了用于测量低副瓣平板裂缝天线远场性能的技术要求和测试方法。该标准适用于低副瓣平板裂缝天线的性能评估，包括辐射方向图、增益等关键参数。

• 测试环境：要求在开阔场地或微波暗室中进行测试，确保无外界干扰。
• 测试设备：详细说明了所需仪器设备及其精度要求，例如信号源、接收机、天线转台等。
• 测试步骤：包括天线安装、校准、数据采集及处理的具体流程。
• 数据处理：对测试结果进行归一化处理，并提供计算公式。

与老版本的变化

相比老版本，SJ 20348-1993在以下几个方面进行了改进和更新：

• 测试环境要求：增加了对电磁兼容性的具体要求，以适应更高精度的测试需求。
• 设备精度提升：对测试设备的精度提出了更高的标准，尤其是信号源和接收机的频率范围和灵敏度。
• 测试流程优化：简化了一些繁琐的步骤，同时增加了自动化测试的相关内容。
• 数据分析方法：引入了更先进的数据处理算法，提高了测试结果的准确性。