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资源简介
摘要：本文件规定了GH3123型集成电路自动测试仪的计量要求、检定条件、检定项目和方法、检定结果的处理及检定周期。本文件适用于GH3123型集成电路自动测试仪的首次检定、后续检定和使用中检验。
Title：Calibration Regulations for GH3123 Type Integrated Circuit Automatic Tester
中国标准分类号：L76
国际标准分类号：31.080 -
封面预览
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拓展解读
主要内容总结
SJ 20237-1993《GH3123型集成电路自动测试仪检定规程》规定了对GH3123型集成电路自动测试仪进行检定的程序和要求。该标准适用于GH3123型测试仪的首次检定、后续检定以及使用中的检验。内容主要包括：
- 适用范围
- 引用文件
- 术语和定义
- 技术要求
- 检定条件
- 检定项目及方法
- 检定结果处理
与老版本的变化对比
与老版本相比，SJ 20237-1993在以下几个方面进行了更新和改进：
- 技术要求：增加了对测试精度的新要求，提高了对测量误差的控制标准。
- 检定方法：引入了新的检定方法，优化了部分测试流程，使检定更加高效。
- 环境条件：对检定环境的要求更加严格，特别是温度和湿度的控制。
- 安全措施：新增了一些安全操作规范，确保检定过程中设备和人员的安全。
- 文档记录：加强了对检定过程和结果的记录要求，便于后续追溯和管理。
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