资源简介
摘要:本文件规定了使用X射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。本文件适用于需要精确测量银和银合金镀层厚度的生产、检测及质量控制领域。
Title:Measurement Method of Thickness for Silver and Silver Alloy Plating - X-ray Fluorescence Spectroscopy
中国标准分类号:L80
国际标准分类号:25.220.20
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拓展解读
在遵循“SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法”的核心原则基础上,通过灵活调整流程和资源分配,可以实现成本节约和效率提升。以下是10项可行的弹性方案。