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  • SJ 1794-1981 半导体器件生产用扩散炉.通用技术条件

    SJ 1794-1981 半导体器件生产用扩散炉.通用技术条件
    半导体器件扩散炉通用技术条件制造测试方法
    15 浏览2025-06-07 更新pdf0.18MB 未评分
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    摘要:本文件规定了半导体器件生产用扩散炉的通用技术条件,包括设备的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装和贮存等内容。本文件适用于半导体器件生产过程中使用的扩散炉。
    Title:General Technical Requirements for Diffusion Furnaces Used in Semiconductor Device Manufacturing
    中国标准分类号:M42
    国际标准分类号:25.160

  • 封面预览

    SJ 1794-1981 半导体器件生产用扩散炉.通用技术条件
  • 拓展解读

    总结

    SJ 1794-1981《半导体器件生产用扩散炉 通用技术条件》规定了用于半导体器件生产的扩散炉的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等内容。

    对比与老版本的变化

    • 技术要求:
      • 增加了对扩散炉环境温度适应性的要求。
      • 提高了对设备稳定性和精度的要求。
    • 试验方法:
      • 引入了更先进的测试仪器和方法。
      • 细化了某些关键参数的测量步骤。
    • 检验规则:
      • 加强了出厂检验的严格性。
      • 新增了型式检验的具体项目。
    • 标志、包装、运输和贮存:
      • 更新了包装材料的要求以提高防护性能。
      • 增加了运输过程中的注意事项。
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