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摘要:本文件规定了半导体分立器件在筛选过程中的技术要求、试验方法和质量保证措施。本文件适用于半导体分立器件的生产、验收及使用阶段的质量控制。
Title:Screening Technical Requirements for Semiconductor Discrete Devices
中国标准分类号:M52
国际标准分类号:31.080
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拓展解读
QJ 787-1983 是我国关于半导体分立器件筛选技术的重要标准,用于规范筛选流程以提高器件可靠性。以下是该标准常见的核心FAQ列表。
QJ 787-1983 的主要目的是通过一系列筛选试验,剔除半导体分立器件中的早期失效产品,从而提高器件在实际应用中的可靠性和使用寿命。筛选过程包括电学特性测试、环境应力测试等。
根据 QJ 787-1983,筛选的主要步骤包括:
高温老化测试是为了模拟器件在高温工作环境下的长期性能变化。通过在高温条件下运行一段时间,可以加速发现潜在的早期失效产品,从而避免其进入最终用户手中。
器件是否合格通常依据以下标准:
错误观点: 筛选会对器件造成不可逆的损害,导致性能下降。
正确答案: 筛选不会对器件性能产生负面影响。筛选的目的在于剔除早期失效的产品,保留性能稳定、可靠的器件。因此,筛选后的器件整体质量更高。
筛选试验的环境条件是根据器件的实际应用场景和预期寿命来设定的。例如,高温老化测试的温度通常高于器件的工作温度范围,而振动测试则模拟运输和安装过程中的机械应力。
选择筛选方案时需考虑以下因素:
是的,筛选只是质量控制的一部分。即使经过筛选,仍需对成品进行抽样检测,以确保最终产品的质量和一致性。
QJ 787-1983 主要适用于二极管、三极管、晶闸管等通用型半导体分立器件。对于特殊用途的器件(如射频器件、高压大功率器件),可能需要额外的筛选要求。
验证筛选设备的方法包括: