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资源简介
摘要：本文件规定了半导体分立器件的验收规则、抽样方案、检验项目及判定依据。本文件适用于航天和国防领域中半导体分立器件的质量验收。
Title：Semiconductor Discrete Devices Acceptance Specifications
中国标准分类号：M73
国际标准分类号：31.080 -
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拓展解读
QJ 1511A-1998 半导体分立器件验收规范
QJ 1511A-1998 是中国航天行业标准，用于半导体分立器件的验收规范。以下是该标准的主要内容及其与老版本的变化。
主要内容
- 适用范围: 适用于航天用半导体分立器件的验收。
- 检验项目: 包括外观检查、电气性能测试、环境适应性试验等。
- 质量要求: 明确了器件的可靠性、稳定性及环境耐受性指标。
- 验收流程: 规定了抽样方法、检测步骤及合格判定准则。
与老版本的变化
- 更新了检验项目: 新增了对高频特性的测试要求。
- 提高了质量标准: 对关键参数的容差范围进行了更严格的限定。
- 优化了验收流程: 引入了更为科学的抽样方案，减少了误判风险。
- 增加了环境试验: 增加了高温高湿条件下的老化试验。
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