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摘要:本文件规定了光栅式测微仪的计量性能要求、技术要求、通用技术要求及检定方法。本文件适用于光栅式测微仪的首次检定、后续检定和使用中检验。
Title:Verification Regulation for Grating Micrometer
中国标准分类号:J80
国际标准分类号:17.060
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拓展解读
本文基于JJG 989-2004《光栅式测微仪检定规程》,对光栅式测微仪的工作原理、技术要求及检定方法进行了系统分析。通过对其测量精度、分辨率和稳定性等关键性能指标的深入探讨,旨在为相关领域的研究者提供理论支持与实践指导。
光栅式测微仪作为一种高精度测量工具,在工业生产、科学研究以及质量检测等领域具有广泛应用。其核心优势在于能够实现亚微米级别的精准测量,因此在现代精密制造中占据重要地位。然而,为了确保仪器的可靠性和准确性,需要按照国家计量标准进行定期检定。本研究以JJG 989-2004为依据,结合实际案例,对光栅式测微仪的技术特点及其检定流程进行全面剖析。
光栅式测微仪主要利用光学原理实现位移量的精确测量。其基本结构包括光源、读数头、标尺光栅和指示光栅等组件。当被测物体发生位移时,标尺光栅与指示光栅之间的相对移动会导致莫尔条纹的变化,进而通过光电转换装置将位移量转化为电信号输出。这种设计使得光栅式测微仪具备较高的灵敏度和重复性。
根据JJG 989-2004的要求,光栅式测微仪的检定主要包括以下几个方面:
综上所述,光栅式测微仪凭借其卓越的测量能力和广泛的适用性,在现代工业中发挥着不可替代的作用。遵循JJG 989-2004的规范要求,能够有效保证仪器的测量精度和可靠性。未来的研究方向可以进一步探索新型材料和技术的应用,以提升光栅式测微仪的整体性能。