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  • JJG 508-2004 四探针电阻率测试仪

    JJG 508-2004 四探针电阻率测试仪
    四探针电阻率测试仪半导体材料
    15 浏览2025-06-07 更新pdf0.47MB 未评分
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    摘要:本文件规定了四探针电阻率测试仪的计量性能要求、技术要求、通用技术条件及检定方法。本文件适用于采用四探针法测量半导体材料电阻率的测试仪的首次检定、后续检定和使用中检查。
    Title:Four-point Probe Resistivity Tester
    中国标准分类号:A46
    国际标准分类号:17.220.20

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    JJG 508-2004 四探针电阻率测试仪
  • 拓展解读

    主要内容

    JJG 508-2004《四探针电阻率测试仪》是中国国家计量检定规程,用于规范四探针电阻率测试仪的性能要求、检定项目和方法。该标准适用于以四探针法测量半导体材料电阻率的仪器。

    对比老版本的变化

    • 性能指标更新:新版本对测试仪的基本误差和稳定性提出了更高的要求,确保测量结果更加准确可靠。
    • 检定项目增加:增加了对仪器温度漂移和抗干扰能力的检测,以适应更复杂的使用环境。
    • 操作流程优化:明确了检定过程中各步骤的具体操作要求,简化了部分复杂环节,提高了检定效率。
    • 参考标准调整:引用了最新的国际和国家标准,使规程更具权威性和通用性。
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