资源简介
摘要:本文件规定了硅单晶电阻率标准样片的技术要求、检定条件、检定项目和方法以及周期检定。本文件适用于硅单晶电阻率标准样片的检定和校准。
Title:Silicon Monocrystal Resistivity Standard Wafer
中国标准分类号:L80
国际标准分类号:25.160
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拓展解读
以下是关于JJG 48-2004 硅单晶电阻率标准样片的一些常见问题及其详细解答。
JJG 48-2004 硅单晶电阻率标准样片是中国国家计量检定规程中规定的一种用于校准和验证电阻率测量仪器的标准样品。它由高纯度硅材料制成,具有已知且精确的电阻率值,用于确保电阻率测量设备的准确性和一致性。
标准样片的电阻率值是通过权威机构(如中国国家计量院)采用精密的测量方法和设备进行多次测量后确定的。这些测量方法符合国际标准,并经过严格验证,以确保其可靠性。
通常情况下,JJG 48-2004 标准样片的校准周期为1至2年。具体周期取决于使用频率和环境条件。建议定期送至专业机构重新校准,以保证其准确性。
是的,只要样片未受到物理损伤或污染,且经过校准确认其电阻率值仍然有效,则可以继续使用。但需定期校准以确保其准确性。