JJF 1092-2002 光切显微镜校准规范

JJF 1092-2002 光切显微镜校准规范

该规范规定了光切显微镜的校准方法和要求，适用于新生产的、使用中的以及修复后的光切显微镜。

主要内容

• 适用范围: 适用于光切显微镜的校准工作。
• 校准项目: 包括仪器的基本几何参数、测量精度、光学性能等。
• 校准条件: 明确了校准时所需的环境条件，如温度、湿度等。
• 校准方法: 提供了详细的校准步骤和使用的标准器具。
• 校准结果: 规定了校准结果的表示方式和判定标准。

与老版本的变化

• 更新了校准环境要求: 新版本对温度和湿度的要求更加严格，以提高校准的准确性。
• 增加了新的校准项目: 引入了对仪器数字化功能的校准要求。
• 改进了校准方法: 对部分校准方法进行了优化，使其更易于操作和实现。
• 提高了精度要求: 对测量精度的要求有所提升，以适应更高精度的应用需求。