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    JBT 9687.2-1999 电力半导体器件用钨圆片
    电力半导体器件钨圆片材料尺寸技术要求
    10 浏览2025-06-08 更新pdf0.12MB 未评分
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    摘要:本文件规定了电力半导体器件用钨圆片的尺寸、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和储存。本文件适用于电力半导体器件中作为支撑或散热用途的钨圆片。
    Title:Tungsten Discs for Power Semiconductor Devices
    中国标准分类号:M42
    国际标准分类号:29.040

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    JBT 9687.2-1999 电力半导体器件用钨圆片
  • 拓展解读

    摘要

    本文基于标准 JBT 9687.2-1999《电力半导体器件用钨圆片》进行深入分析,探讨了该标准在电力电子领域中的重要性及其技术要求。通过详细解读标准内容,结合实际应用背景,本文旨在为相关领域的研究者和工程师提供参考。

    引言

    随着电力电子技术的快速发展,高性能材料在电力半导体器件中的应用变得尤为重要。钨圆片作为一种关键材料,在高温、高功率应用场景中展现出卓越性能。本标准的制定为钨圆片的质量控制提供了科学依据,同时也推动了电力半导体器件的技术进步。

    标准概述

    JBT 9687.2-1999 是中国国家机械行业的一项标准,主要规定了电力半导体器件用钨圆片的技术要求、试验方法以及检验规则等内容。该标准适用于以钨为主要成分的圆形材料,广泛应用于晶闸管、IGBT 等电力电子器件。

    技术要求

    • 化学成分: 标准对钨圆片的主要化学成分进行了严格限定,确保其纯度达到工业级要求。
    • 物理性能: 包括密度、硬度、导电率等指标,这些参数直接影响器件的工作效率和可靠性。
    • 表面质量: 要求表面光滑无缺陷,避免因加工不良导致的器件失效。
    • 尺寸公差: 对直径、厚度及平面度提出了明确的精度要求,以满足精密制造的需求。

    试验方法

    为了验证钨圆片是否符合标准要求,标准中列出了多种试验方法:

    • 化学成分分析采用光谱法或化学滴定法。
    • 物理性能测试包括密度测量、硬度测试以及导电率检测。
    • 表面质量检查通过显微镜观察和粗糙度仪测量完成。
    • 尺寸公差则需借助高精度测量设备进行校验。

    结论

    JBT 9687.2-1999 的发布为电力半导体器件用钨圆片的生产与应用提供了标准化指导。通过对标准的全面解析,可以发现其在提升产品质量、保障器件性能方面具有重要意义。未来,随着新材料和新技术的发展,该标准仍有进一步优化的空间,以更好地适应行业需求。

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