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摘要:本文件规定了锰铜和新康铜电阻合金中硅含量的测定方法,采用硅钼兰光度法。本文件适用于锰铜和新康铜电阻合金中硅含量的化学分析。
Title:Chemical Analysis Method for Manganin and Constantan Resistance Alloys - Silicomolybdenum Blue Photometric Method for Determination of Silicon Content
中国标准分类号:H61
国际标准分类号:77.040.30
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拓展解读
以下是关于“JBT 9493.5-1999 锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量”的常见问题解答。
JBT 9493.5-1999 是中国机械行业的一项标准,规定了通过硅钼兰光度法测定锰铜和新康铜电阻合金中硅含量的具体方法。该标准适用于工业生产中对这些材料的质量控制。
硅钼兰光度法具有灵敏度高、操作简便、结果准确的特点,特别适合用于微量硅的测定。这种方法利用硅与钼酸铵反应生成硅钼兰化合物,在特定波长下进行比色测定。
在实验前,需确保所有试剂新鲜配制并校准分光光度计。同时,样品应经过适当的预处理,如研磨成细粉并充分混合均匀。
测定结果通常以质量分数(%)表示,最终结果应取多次平行测定的平均值,并保留至小数点后两位。
如果测定值超出标准范围,应检查实验过程是否存在问题,例如试剂浓度是否正确、仪器是否校准等。必要时可重新取样进行复测。
虽然该方法主要针对锰铜和新康铜电阻合金,但在适当调整试剂用量和实验条件的情况下,也可尝试用于其他金属材料的硅含量测定。
光度法是基于物质对光的选择性吸收特性来定量分析的方法。在本标准中,硅钼兰化合物在特定波长下的吸光度与其浓度呈线性关系,从而实现定量测定。
可以通过重复实验验证结果的一致性,同时与已知的标准样品进行对比,确保测定结果的可靠性。