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  • JBT 9493.5-1999 锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量

    JBT 9493.5-1999 锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量
    锰铜新康铜硅钼兰光度法化学分析硅量测定
    17 浏览2025-06-08 更新pdf0.11MB 未评分
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    摘要:本文件规定了锰铜和新康铜电阻合金中硅含量的测定方法,采用硅钼兰光度法。本文件适用于锰铜和新康铜电阻合金中硅含量的化学分析。
    Title:Chemical Analysis Method for Manganin and Constantan Resistance Alloys - Silicomolybdenum Blue Photometric Method for Determination of Silicon Content
    中国标准分类号:H61
    国际标准分类号:77.040.30

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    JBT 9493.5-1999 锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量
  • 拓展解读

    常见问题解答(FAQ)

    以下是关于“JBT 9493.5-1999 锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量”的常见问题解答。

    1. 什么是JBT 9493.5-1999标准?

    JBT 9493.5-1999 是中国机械行业的一项标准,规定了通过硅钼兰光度法测定锰铜和新康铜电阻合金中硅含量的具体方法。该标准适用于工业生产中对这些材料的质量控制。

    2. 为什么选择硅钼兰光度法测定硅含量?

    硅钼兰光度法具有灵敏度高、操作简便、结果准确的特点,特别适合用于微量硅的测定。这种方法利用硅与钼酸铵反应生成硅钼兰化合物,在特定波长下进行比色测定。

    3. 测定过程中需要哪些主要试剂和仪器?

    • 试剂: 钼酸铵溶液、草酸溶液、硫酸溶液、硅标准溶液等。
    • 仪器: 分光光度计、容量瓶、移液管、比色皿等。

    4. 实验前需要做哪些准备工作?

    在实验前,需确保所有试剂新鲜配制并校准分光光度计。同时,样品应经过适当的预处理,如研磨成细粉并充分混合均匀。

    5. 如何避免实验中的误差?

    • 严格按照标准规定的步骤操作,避免试剂过量或不足。
    • 注意试剂的保存条件,防止其变质。
    • 定期校准仪器,确保测量精度。

    6. 测定结果如何表示?

    测定结果通常以质量分数(%)表示,最终结果应取多次平行测定的平均值,并保留至小数点后两位。

    7. 如果测定值超出标准范围怎么办?

    如果测定值超出标准范围,应检查实验过程是否存在问题,例如试剂浓度是否正确、仪器是否校准等。必要时可重新取样进行复测。

    8. 该方法是否适用于其他金属材料的硅含量测定?

    虽然该方法主要针对锰铜和新康铜电阻合金,但在适当调整试剂用量和实验条件的情况下,也可尝试用于其他金属材料的硅含量测定。

    9. 标准中提到的“光度法”是什么原理?

    光度法是基于物质对光的选择性吸收特性来定量分析的方法。在本标准中,硅钼兰化合物在特定波长下的吸光度与其浓度呈线性关系,从而实现定量测定。

    10. 如何判断实验结果是否可靠?

    可以通过重复实验验证结果的一致性,同时与已知的标准样品进行对比,确保测定结果的可靠性。

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