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摘要:本文件规定了透射电子显微镜的主要性能参数的试验方法,包括分辨率、放大倍数、像差校正等。本文件适用于透射电子显微镜的设计、生产和验收测试。
Title:Test Methods for Transmission Electron Microscope
中国标准分类号:M21
国际标准分类号:31.140
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拓展解读
JBT 9352-1999是中国国家标准,规定了透射电子显微镜(TEM)的试验方法。以下是针对该标准的一些常见问题及其解答。
该标准主要规定了透射电子显微镜在材料科学中的应用,包括样品制备、操作规程、图像分析及数据记录等内容。其目的是为用户提供标准化的操作流程,以确保实验结果具有可重复性和可靠性。
透射电子显微镜通过电子束穿透样品并形成图像来观察样品的微观结构。与光学显微镜不同,它利用高能电子束代替可见光,因此能够提供更高的分辨率,通常可以达到原子级别。
加速电压的选择取决于样品类型和所需分辨率。低电压(如80kV)适用于对电子束敏感的样品,而高电压(如200kV或更高)则适合高分辨率成像。根据JBT 9352-1999,推荐根据具体应用场景选择合适的电压范围。
该标准主要适用于实验室常用的透射电子显微镜设备,但不涵盖特殊设计或定制化的仪器。用户在使用前需确认设备是否符合标准要求。
可以通过以下方式进行验证:重复性测试(多次实验结果一致)、对照实验(与其他已知结果对比)以及使用标准样品进行校准。
未遵循标准可能导致实验结果不可靠或无法被其他研究者复现。这不仅影响研究的科学价值,还可能带来法律或伦理上的风险。
国际上常用的透射电子显微镜标准包括ISO 9095等,但这些标准可能与中国国情略有差异。建议优先参考JBT 9352-1999,同时结合实际情况灵活调整。
可以通过中国国家标准化管理委员会网站或其他授权机构购买该标准的正式文本。此外,部分高校或科研机构可能提供有限的查阅权限。