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    JBT 8233-1999 立式接触式干涉仪
    立式接触式干涉仪光学仪器测量设备精度检测几何量计量
    15 浏览2025-06-08 更新pdf0.22MB 未评分
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    摘要:本文件规定了立式接触式干涉仪的术语和定义、技术要求、检验方法及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于立式接触式干涉仪的设计、制造和验收。
    Title:Vertical Contact Interferometer - JBT 8233-1999
    中国标准分类号:J76
    国际标准分类号:17.040.20

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    JBT 8233-1999 立式接触式干涉仪
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    引言

    立式接触式干涉仪是一种重要的精密测量工具,广泛应用于机械制造、航空航天和光学工程等领域。国家标准 JBT 8233-1999 对该仪器的性能指标和技术要求进行了详细规定。本文将围绕该标准展开讨论,分析其技术特点及其在实际应用中的意义。

    立式接触式干涉仪的技术特点

    立式接触式干涉仪的核心在于其独特的结构设计与高精度的测量能力。根据 JBT 8233-1999 的规定,该仪器具有以下技术特点:

    • 高分辨率:能够实现微米级甚至亚微米级的测量精度。
    • 稳定性强:采用刚性结构设计,确保在复杂环境下的稳定运行。
    • 多功能性:不仅可以用于长度测量,还能进行角度和表面粗糙度的检测。

    标准的应用价值

    JBT 8233-1999 标准的制定为立式接触式干涉仪的设计、生产和检验提供了明确的指导。以下是该标准的实际应用价值:

    • 提升产品质量:通过标准化的生产流程,确保仪器的一致性和可靠性。
    • 促进技术创新:为相关领域的研究者提供了技术参考,推动了测量技术的进步。
    • 满足行业需求:适应了现代工业对高精度测量设备的需求,为制造业提供了有力支持。

    结论

    立式接触式干涉仪作为精密测量领域的重要工具,其技术规范得到了 JBT 8233-1999 标准的有效保障。该标准不仅体现了我国在精密测量领域的技术水平,也为国际标准化工作贡献了中国智慧。未来,随着科技的发展,该仪器将在更多领域发挥重要作用。

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