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    JBT 7786-1995 电力半导体器件检验抽样方法
    电力半导体器件检验抽样方法质量控制可靠性测试
    10 浏览2025-06-08 更新pdf0.64MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了电力半导体器件的检验抽样方法,包括抽样规则、检验项目和判定准则。本文件适用于电力半导体器件的生产、验收和质量控制过程。
    Title:Inspection Sampling Method for Power Semiconductor Devices
    中国标准分类号:K21
    国际标准分类号:29.080.20

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    JBT 7786-1995 电力半导体器件检验抽样方法
  • 拓展解读

    主要内容

    JBT 7786-1995 是关于电力半导体器件检验抽样方法的标准文件,规定了电力半导体器件在生产、验收和质量控制过程中如何进行抽样检验的方法和程序。该标准适用于各种类型的电力半导体器件,包括但不限于晶闸管、二极管、晶体管等。

    • 明确了抽样的基本原则和目的。
    • 详细描述了抽样方案的具体步骤,包括样本数量的确定、检验项目的选取以及合格判定规则。
    • 提供了不同等级产品质量要求的参考依据。

    与老版本的变化

    相比于老版本,JBT 7786-1995 做出了以下主要调整:

    • 优化了抽样比例和样本数量的计算方法,提高了抽样的科学性和准确性。
    • 增加了对新型电力半导体器件的适用性说明,并更新了相关技术参数。
    • 强化了对不合格品处理流程的规定,确保产品质量问题能够得到及时有效的解决。
    • 引入了更严格的环境适应性测试要求,以适应现代工业应用的需求。
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