资源简介
摘要:本文件规定了电力半导体器件的检验抽样方法,包括抽样规则、检验项目和判定准则。本文件适用于电力半导体器件的生产、验收和质量控制过程。
Title:Inspection Sampling Method for Power Semiconductor Devices
中国标准分类号:K21
国际标准分类号:29.080.20
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拓展解读
JBT 7786-1995 是关于电力半导体器件检验抽样方法的标准文件,规定了电力半导体器件在生产、验收和质量控制过程中如何进行抽样检验的方法和程序。该标准适用于各种类型的电力半导体器件,包括但不限于晶闸管、二极管、晶体管等。
相比于老版本,JBT 7786-1995 做出了以下主要调整:
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