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    JBT 7402-1994 平行平晶
    平行平晶光学元件检测工具精度表面质量
    13 浏览2025-06-08 更新pdf0.19MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了平行平晶的技术要求、精度等级、检验方法和标志包装等内容。本文件适用于光学加工、精密测量等领域中使用的平行平晶。
    Title:Parallel Flat Crystal
    中国标准分类号:J12
    国际标准分类号:31.120

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    JBT 7402-1994 平行平晶
  • 拓展解读

    JBT 7402-1994 平行平晶

    该标准规定了平行平晶的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等内容。主要用于光学仪器和平面度测量领域。

    主要内容

    • 技术要求:包括表面质量、平面度误差、尺寸公差等指标。
    • 试验方法
    • :详细描述了如何进行平面度误差的检测及表面质量的评估。
    • 检验规则
    • :明确了产品的出厂检验和型式检验的具体要求。
    • 标志、包装、运输和贮存
    • :对产品的标识方式、包装材料、运输条件以及存储环境做出了具体规定。

    与老版本的变化

    • 更新了平面度误差的测量精度要求。
    • 增加了对表面粗糙度的控制指标。
    • 优化了包装材料的选择,以提高产品的运输安全性。
    • 强化了对产品标识信息的规范性要求。
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