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资源简介
摘要：本文件规定了平行平晶的技术要求、精度等级、检验方法和标志包装等内容。本文件适用于光学加工、精密测量等领域中使用的平行平晶。
Title：Parallel Flat Crystal
中国标准分类号：J12
国际标准分类号：31.120 -
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拓展解读
JBT 7402-1994 平行平晶
该标准规定了平行平晶的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等内容。主要用于光学仪器和平面度测量领域。
主要内容
- 技术要求：包括表面质量、平面度误差、尺寸公差等指标。
- 试验方法 ：详细描述了如何进行平面度误差的检测及表面质量的评估。
- 检验规则 ：明确了产品的出厂检验和型式检验的具体要求。
- 标志、包装、运输和贮存 ：对产品的标识方式、包装材料、运输条件以及存储环境做出了具体规定。
与老版本的变化
- 更新了平面度误差的测量精度要求。
- 增加了对表面粗糙度的控制指标。
- 优化了包装材料的选择，以提高产品的运输安全性。
- 强化了对产品标识信息的规范性要求。
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