JBT 7398.5-1994 显微镜.支架和基座

概述

本标准规定了显微镜支架和基座的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装和运输。

主要内容

• 技术要求：包括材料、尺寸、表面处理、机械性能等方面的具体指标。
• 试验方法：详细描述了如何对支架和基座进行测试以确保符合标准。
• 检验规则：明确了产品的检验流程和合格判定条件。
• 标志、包装和运输：规定了产品标识、包装方式以及运输中的注意事项。

与老版本的变化

• 增加了对环保材料的要求。
• 提高了机械性能的指标要求。
• 优化了试验方法，使其更加科学和精确。
• 更新了包装和运输的相关内容，适应现代物流需求。