JBT 13687-2019 光栅编码器 可靠性试验方法

概述

JBT 13687-2019《光栅编码器 可靠性试验方法》是关于光栅编码器可靠性测试的标准文件。该标准对光栅编码器的可靠性试验方法进行了详细规定，旨在确保产品的质量和性能。

主要内容

• 适用范围：适用于光栅编码器的可靠性试验，包括试验条件、试验项目和试验方法。
• 试验条件：
  • 环境温度和湿度要求。
  • 电源电压和频率的稳定性。
• 试验项目：
  • 寿命试验：评估产品在长时间运行下的可靠性。
  • 振动试验：模拟实际使用中的振动环境。
  • 冲击试验：测试产品在受到冲击时的耐受能力。
• 试验方法：详细描述了每种试验的具体操作步骤和数据记录要求。

与老版本的变化

• 更新试验条件：增加了对更高温度和湿度环境的适应性要求。
• 新增试验项目：增加了电磁兼容性试验，以符合现代电子设备的标准。
• 优化试验方法：改进了部分试验的操作流程，使其更加科学和高效。