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资源简介
摘要:本文件规定了Sub-6GHz GaN射频器件可靠性筛选和验收的试验条件、测试方法及判定准则。本文件适用于Sub-6GHz频段内GaN射频器件的生产验证与质量控制。
Title:TCASAS 028-2023 Reliability Screening and Acceptance Methods for Sub-6GHz GaN RF Devices
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拓展解读
在TCASAS 028-2023《Sub-6GHz GaN射频器件可靠性筛选和验收方法》中,有一项重要的更新是关于“高功率循环测试”的要求。与旧版相比,新版标准对这项测试的条件和评估准则进行了更详细的规范。
以高功率循环测试为例,新版标准明确了测试环境应控制在40摄氏度±5摄氏度,相对湿度为65%±10%,并且要求在整个测试周期内保持稳定的温度和湿度条件。此外,对于测试设备的校准频率也提出了更高的要求,确保每次测试的数据准确可靠。
具体应用时,首先需要根据器件规格书确定适当的输入功率水平,并设置相应的脉冲宽度和占空比。然后按照规定的次数执行功率循环,期间需持续监测器件的关键参数如输出功率、增益及驻波比等变化情况。如果在测试过程中发现任何参数超出预先设定的容限范围,则判定该器件不合格。
值得注意的是,在实际操作中还需注意以下几个方面:一是确保测试系统的接地良好,防止静电损害;二是定期检查并维护测试仪器,保证其正常工作状态;三是详细记录每次测试的结果,便于后续分析和追溯。
通过严格遵循这些规定,可以有效提高Sub-6GHz GaN射频器件的质量控制水平,保障最终产品的性能稳定性和使用寿命。
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TCASAS 028-2023 Sub-6GHz GaN射频器件可靠性筛选和验收方法
最后更新时间 2025-06-02