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    GBT 9425-1988 半导体集成电路运算放大器空白详细规范
    半导体集成电路运算放大器详细规范性能要求测试方法
    14 浏览2025-06-08 更新pdf0.28MB 未评分
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    摘要:本文件规定了半导体集成电路中运算放大器的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于以硅平面工艺制造的双极型运算放大器,其他类型运算放大器也可参照使用。
    Title:Semiconductor Integrated Circuits - Operational Amplifiers - Detailed Specifications
    中国标准分类号:M12
    国际标准分类号:31.140

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    GBT 9425-1988 半导体集成电路运算放大器空白详细规范
  • 拓展解读

    GBT 9425-1988 半导体集成电路运算放大器空白详细规范

    该标准规定了半导体集成电路运算放大器的空白详细规范,适用于设计、生产和测试此类器件。

    主要内容

    • 适用范围: 本标准适用于半导体集成电路中的运算放大器,包括设计、生产、检验和验收。
    • 术语和定义: 明确了运算放大器相关的专业术语和定义。
    • 技术要求: 包括电气参数、环境条件、可靠性要求等。
    • 试验方法: 提供了测试运算放大器性能的具体方法和步骤。
    • 检验规则: 规定了产品的检验流程和合格判定标准。
    • 标志、包装、运输和贮存: 对产品标识、包装方式以及运输和存储条件进行了详细说明。

    与老版本的变化

    • 更新了技术指标: 新版本对某些关键参数的技术指标进行了调整,以适应现代技术发展需求。
    • 优化了试验方法: 引入了更先进的测试技术和设备,提高了测试结果的准确性和可靠性。
    • 强化了环境适应性要求: 增加了对极端环境条件下性能稳定性的要求。
    • 改进了包装和运输规范: 提出了更高的环保要求,并优化了包装材料的选择。
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