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资源简介
摘要：本文件规定了电子元器件结构陶瓷材料显微结构的测定方法。本文件适用于电子元器件中使用的陶瓷材料显微结构分析与评估。
Title：Test Methods for Properties of Structural Ceramic Materials for Electronic Components - Determination of Microstructure
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：25.220 -
封面预览
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拓展解读
GBT 5594.8-1985主要内容
本标准规定了电子元器件结构陶瓷材料显微结构测定的方法，包括显微组织观察、晶粒尺寸测量、气孔率分析等内容。这些方法旨在帮助评估陶瓷材料的微观特性，从而确保其在电子元器件中的适用性。
与老版本的变化
- 测试方法的细化：新版本对显微组织观察的具体步骤进行了更详细的描述，增加了操作规范性。
- 晶粒尺寸测量改进：引入了更为精确的测量工具和计算公式，提高了测量结果的准确性。
- 气孔率分析增强：新增了气孔分类的标准，便于更全面地评估材料的致密性。
- 标准化流程：整体流程更加标准化，减少了不同实验室间测试结果的差异。
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