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摘要:本文件规定了锗单晶和锗单晶片的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存等。本文件适用于以区熔法或直拉法生长的锗单晶及其切片加工而成的锗单晶片。
Title:Germanium Single Crystals and Germanium Wafers
中国标准分类号:H63
国际标准分类号:29.045
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拓展解读
GBT 5238-2009 是中国国家标准化管理委员会发布的关于锗单晶和锗单晶片的标准文件。这一标准为锗材料的生产、加工及应用提供了详细的规范和技术要求,是确保锗材料质量和性能的重要依据。锗是一种重要的半导体材料,在现代电子工业中具有广泛的应用,尤其是在红外光学、光纤通信以及高性能电子器件领域。
锗单晶的制备通常采用提拉法(Czochralski Method),这种方法能够生产出高质量、低缺陷密度的晶体。在GB/T 5238-2009中,对锗单晶的尺寸、电阻率、位错密度等关键指标进行了明确规定。例如,锗单晶的电阻率需达到100至1000 Ω·cm,以满足高精度电子器件的需求。
锗单晶片是通过切割、研磨和抛光等工艺从锗单晶上制得的薄片,广泛应用于红外光学窗口、太阳能电池以及射频器件等领域。例如,在红外光学领域,锗单晶片因其高透光性和良好的热稳定性而被用于制造红外镜头。
近年来,随着信息技术和新能源产业的快速发展,锗材料的需求量持续增长。例如,某知名光电企业利用GB/T 5238-2009标准生产的锗单晶片,成功开发出一款高性能红外探测器,其灵敏度较传统产品提升了30%以上。这不仅证明了标准的重要性,也展示了锗材料在未来科技中的潜力。
未来,随着5G通信、人工智能等领域的推进,锗单晶及其衍生产品的市场需求将进一步扩大。GB/T 5238-2009作为行业标杆,将继续推动锗材料行业的规范化发展。