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资源简介
摘要：本文件规定了分立器件和集成电路的总规范，包括基本参数、性能要求、试验方法及质量评定程序等内容。本文件适用于半导体分立器件和集成电路的设计、生产和验收。
Title：Semiconductor Devices - Part 10: General Specifications for Discrete Devices and Integrated Circuits
中国标准分类号：M63
国际标准分类号：31.080 -
封面预览
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拓展解读
GBT 4589.1-2006主要内容
GBT 4589.1-2006《半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范》规定了半导体分立器件和集成电路的通用要求，包括设计、制造、测试、包装和运输等方面的内容。
与老版本的主要变化
- 技术更新: 新版本引入了更先进的技术和材料，以适应现代半导体工业的发展需求。
- 性能要求: 对器件的电气性能、环境适应性和可靠性提出了更高的要求。
- 测试方法: 更新了一些测试方法和标准，使其更加精确和可靠。
- 环保要求: 增加了对环保材料的使用要求，符合国际环保标准。
- 包装规范: 改进了包装材料和方式，以提高产品的运输和存储安全性。
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