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资源简介
摘要：本文件规定了用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钨及其合金中钴量的方法。本文件适用于钨及其合金中钴量的测定，测定范围为0.001%～5.000%。
Title：Tungsten chemical analysis methods - Part 7: Determination of cobalt content - Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry
中国标准分类号：H42
国际标准分类号：77.080.01 -
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拓展解读
GBT 4324.7-2012主要内容
本标准规定了采用电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）测定钨中钴含量的方法。适用于钨材料中钴元素含量的检测。
- 样品制备： 样品需经过适当的溶解和处理，确保钴元素能够被准确测量。
- 仪器条件： 使用配备特定波长的电感耦合等离子体原子发射光谱仪，设定合适的激发条件。
- 校准曲线： 制备一系列含已知钴浓度的标准溶液，绘制校准曲线。
- 样品测定： 将处理后的样品溶液引入仪器，记录钴元素的发射光谱强度，并通过校准曲线计算钴含量。
- 结果报告： 测定结果需保留至小数点后两位，并符合相关精度要求。
与老版本的变化对比
- 方法改进： 新版标准对样品前处理步骤进行了优化，提高了检测的灵敏度和准确性。
- 仪器更新： 强调使用更高性能的电感耦合等离子体光谱仪，支持更宽的动态范围。
- 校准精度： 增加了对校准曲线线性范围的明确要求，确保测量结果的可靠性。
- 适用范围扩展： 老版本主要适用于纯钨材料，而新版标准扩展到更多种类的钨基合金。
- 数据处理： 新版增加了对异常值剔除的具体指导，提升了数据分析的严谨性。
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