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摘要:本文件规定了采用平衡型圆盘谐振器法测试高频介质基板复介电常数的方法、测试条件、数据处理及结果表达。本文件适用于高频介质基板材料的复介电常数测量,尤其适用于微波频段的应用场景。
Title:Test Method for Complex Dielectric Constant of High Frequency Dielectric Substrates - Balanced Disk Resonator Method
中国标准分类号:L80
国际标准分类号:31.140
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拓展解读
本文以《TCSTM 00986-2023 高频介质基板复介电常数测试 平衡型圆盘谐振器法》中关于样品制备要求的变化为切入点进行深入分析。相较于旧版标准,新版在样品尺寸与表面处理方面提出了更为严格和具体的规定。
根据新标准的要求,平衡型圆盘谐振器法测试高频介质基板复介电常数时,样品直径应控制在25.4毫米±0.2毫米范围内,厚度则需保持在1.5毫米±0.1毫米之间。这一变化旨在确保不同批次样品的一致性,从而提高测试结果的可比性和可靠性。同时,新标准强调样品表面必须平整且无明显划痕、裂纹等缺陷,这不仅有助于提升测量精度,还能避免因表面不规则导致的谐振频率偏移问题。
为了更好地理解这些要求的实际应用,我们可以从以下几个方面着手:首先,在样品加工阶段,应当采用精密机械加工设备来保证尺寸公差符合标准规定;其次,在样品打磨抛光过程中,要特别注意操作手法,防止过度磨损造成厚度偏差;最后,在样品清洁环节,需使用高纯度酒精或其他合适溶剂彻底清除表面油污及灰尘颗粒,确保接触面干净光滑。
通过以上措施,可以有效落实新版标准对样品制备的具体要求,进而获得更加准确可靠的复介电常数测试数据。