• 首页
  • 查标准
  • 下载
  • 专题
  • 标签
  • 首页
  • 标准
  • 通信
  • TCSTM 00986-2023 高频介质基板的复介电常数测试 平衡型圆盘谐振器法

    TCSTM 00986-2023 高频介质基板的复介电常数测试 平衡型圆盘谐振器法
    高频介质基板复介电常数平衡型圆盘谐振器测试方法电磁特性
    19 浏览2025-06-02 更新pdf1.17MB 未评分
    加入收藏
    立即下载
  • 资源简介

    摘要:本文件规定了采用平衡型圆盘谐振器法测试高频介质基板复介电常数的方法、测试条件、数据处理及结果表达。本文件适用于高频介质基板材料的复介电常数测量,尤其适用于微波频段的应用场景。
    Title:Test Method for Complex Dielectric Constant of High Frequency Dielectric Substrates - Balanced Disk Resonator Method
    中国标准分类号:L80
    国际标准分类号:31.140

  • 封面预览

    TCSTM 00986-2023 高频介质基板的复介电常数测试 平衡型圆盘谐振器法
  • 拓展解读

    本文以《TCSTM 00986-2023 高频介质基板复介电常数测试 平衡型圆盘谐振器法》中关于样品制备要求的变化为切入点进行深入分析。相较于旧版标准,新版在样品尺寸与表面处理方面提出了更为严格和具体的规定。

    根据新标准的要求,平衡型圆盘谐振器法测试高频介质基板复介电常数时,样品直径应控制在25.4毫米±0.2毫米范围内,厚度则需保持在1.5毫米±0.1毫米之间。这一变化旨在确保不同批次样品的一致性,从而提高测试结果的可比性和可靠性。同时,新标准强调样品表面必须平整且无明显划痕、裂纹等缺陷,这不仅有助于提升测量精度,还能避免因表面不规则导致的谐振频率偏移问题。

    为了更好地理解这些要求的实际应用,我们可以从以下几个方面着手:首先,在样品加工阶段,应当采用精密机械加工设备来保证尺寸公差符合标准规定;其次,在样品打磨抛光过程中,要特别注意操作手法,防止过度磨损造成厚度偏差;最后,在样品清洁环节,需使用高纯度酒精或其他合适溶剂彻底清除表面油污及灰尘颗粒,确保接触面干净光滑。

    通过以上措施,可以有效落实新版标准对样品制备的具体要求,进而获得更加准确可靠的复介电常数测试数据。

  • 下载说明

    预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象,仅为图片呈现问题,不影响文档的下载及阅读体验。

    当文档总页数显著少于常规篇幅时,建议审慎下载。

    资源简介仅为单方陈述,其信息维度可能存在局限,供参考时需结合实际情况综合研判。

    如遇下载中断、文件损坏或链接失效,可提交错误报告,客服将予以及时处理。

  • 相关资源
    下一篇 TCOS 013-2023 装甲车辆动力及传动系统试验要求
    无相关信息
资源简介
封面预览
拓展解读
下载说明
相关资源
  • 帮助中心
  • 网站地图
  • 联系我们
2024-2025 WenDangJia.com 浙ICP备2024137650号-1