TCPIA 0041-2022 晶体硅光伏电池热辅助光致衰减测试方法

摘要：本文件规定了晶体硅光伏电池热辅助光致衰减的测试方法，包括测试条件、设备要求、测试步骤和结果计算。本文件适用于晶体硅光伏电池的热辅助光致衰减特性评估。
Title：Test Method for Thermal-Assisted Light-Induced Degradation of Crystalline Silicon Photovoltaic Cells
中国标准分类号：TK
国际标准分类号：27.160

晶体硅光伏电池的热辅助光致衰减（HASTL）是影响其长期稳定性的关键因素之一。在TCPIA 0041-2022《晶体硅光伏电池热辅助光致衰减测试方法》中，与旧版相比，对测试条件和评估指标的细化尤为突出。本文将以“测试温度设置的变化”为核心，探讨这一改动对实际应用的意义。

### 测试温度设置的变化

在旧版标准中，热辅助光致衰减测试通常设定为60℃至85℃之间，而新版标准则具体规定了测试温度为75℃±3℃。这一调整看似细微，却深刻影响着测试结果的准确性和一致性。

#### 新版标准为何选择75℃？

首先，75℃接近于大多数光伏组件工作环境中的最高温升范围，能够更真实地模拟户外运行条件下的老化过程。其次，在此温度下，材料的老化速率与实际使用情况更为吻合，有助于更精确地预测电池的寿命。

#### 应用方法详解

当执行该测试时，需确保设备具备精密控温功能以维持恒定的75℃环境。样品应置于光源照射下，并定期检测其光电转换效率变化率。值得注意的是，测试周期内不仅要记录初始值与最终值之间的差异，还需关注中间阶段的数据波动，以便分析衰减趋势。

通过严格遵循新版标准中的温度要求，可以提高测试数据的可靠性，为企业优化产品设计提供科学依据。例如，制造商可根据测试结果改进封装材料的选择，增强抗老化性能，从而延长产品的使用寿命。

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