资源简介
摘要:本文件规定了发光二极管芯片点测的术语和定义、测试条件、测试设备、测试步骤以及数据处理方法。本文件适用于发光二极管芯片的光电性能参数的点测。
Title:Test Method for Light Emitting Diode Chips - Spot Test
中国标准分类号:L80
国际标准分类号:31.140
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拓展解读
为了在符合GBT 36613-2018标准的前提下,提高灵活性并降低运营成本,以下是针对发光二极管芯片点测方法的10项弹性方案。