GBT 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

GBT 36477-2018 半导体集成电路快闪存储器测试方法

GBT 36477-2018 是中国国家标准，用于规范半导体集成电路中快闪存储器的测试方法。该标准旨在提供一套统一的测试流程和指标，以确保快闪存储器产品的质量和可靠性。

主要内容

• 测试范围: 标准适用于各类快闪存储器，包括但不限于NAND Flash、NOR Flash等。
• 测试项目: 包括电气特性测试、功能测试、可靠性测试等。
  • 电气特性测试: 测试电压、电流、功耗等参数。
  • 功能测试: 验证存储器的基本功能是否正常。
  • 可靠性测试: 检测存储器在长期使用中的稳定性和寿命。
• 测试环境: 明确了测试所需的温度、湿度等环境条件。
• 测试设备: 规定了测试所需设备的技术要求和校准方法。

与老版本的变化

• 新增测试项目: 新增了一些针对新型快闪存储器的测试项目，例如低功耗测试和高速读写测试。
• 更新测试方法: 对原有测试方法进行了优化，提高了测试效率和准确性。
• 增强可靠性要求: 加强了对存储器长期可靠性的测试要求，增加了老化测试和高温高湿测试。
• 扩展适用范围: 扩大了标准的应用范围，涵盖了更多类型的快闪存储器产品。