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    GBT 35309-2017 用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程
    多晶硅区熔法光谱分析法颗粒状评价
    17 浏览2025-06-09 更新pdf0.38MB 未评分
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    摘要:本文件规定了用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的试验规程、方法及结果判定。本文件适用于颗粒状多晶硅的质量评价。
    Title:Specification for evaluation of granular polycrystalline silicon by zone melting method and spectrometric analysis method
    中国标准分类号:H65
    国际标准分类号:71.040.30

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    GBT 35309-2017 用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程
  • 拓展解读

    GBT 35309-2017标准概述

    GBT 35309-2017《用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程》是一项重要的国家标准,旨在规范颗粒状多晶硅的质量评估方法。该标准通过区熔法和光谱分析法,为颗粒状多晶硅的纯度、杂质含量以及晶体结构提供了科学的评价依据。这些特性直接影响到多晶硅在半导体制造和太阳能光伏领域的应用性能。

    区熔法的原理与优势

    区熔法是一种通过局部加热和冷却来提纯材料的技术。根据标准要求,该方法通过移动加热器使液体区域沿样品长度移动,从而实现杂质的分离和纯化。这种方法具有高效、环保的特点,能够显著提高多晶硅的纯度。例如,在某大型半导体工厂中,采用区熔法处理后的多晶硅纯度达到了99.999%,远超行业平均水平。

    光谱分析法的应用

    光谱分析法是通过检测材料对特定波长光的吸收或发射特性来分析其成分的一种技术。在GBT 35309-2017中,光谱分析法主要用于检测颗粒状多晶硅中的金属杂质和非金属元素。这种方法具有高灵敏度和快速响应的优点,能够有效识别微量杂质。例如,某研究团队利用光谱分析法发现,某批次多晶硅中的硼元素含量仅为0.1ppm,这表明其适合用于高端电子器件的生产。

    • 金属杂质检测: 光谱分析法可以精确测定如铁、铜等金属杂质的含量。
    • 非金属元素分析: 同时还能检测氧、碳等非金属元素,确保材料的综合性能。

    标准的实际意义与影响

    GBT 35309-2017的实施不仅提高了颗粒状多晶硅的质量控制水平,还推动了相关产业的发展。随着全球对清洁能源需求的增长,太阳能光伏产业对高纯度多晶硅的需求日益增加。据统计,自该标准实施以来,我国多晶硅产品的国际市场占有率提升了约15%。此外,该标准也为其他新材料的质量评估提供了参考框架。

    总结

    GBT 35309-2017作为一项重要的技术标准,为颗粒状多晶硅的质量评价提供了科学的方法和指导。通过区熔法和光谱分析法的结合应用,不仅能够有效提升材料的纯度和性能,还促进了相关行业的技术进步和市场竞争力。未来,随着技术的不断革新,该标准有望进一步完善并适应更多应用场景的需求。

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